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X線吸収微細構造 XAFSの測定と解析 日本分光学会測定法シリーズ26 宇田川康夫 編

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カバー 初版、2,750円 、A5判 、222ページ 、出版元:学会出版センター 、刊行年:平成5 、テーマ:物理 、状態:良好(極美/美/良好/並下/難の5段階) 、在庫ID:170212 、ISBN:4762257087