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X線吸収微細構造　XAFSの測定と解析　日本分光学会測定法シリーズ２６

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著者：宇田川康夫　編 出版社：学会出版センター カバー　初版　Ａ５判222頁　テーマ：物理　　状態：良好(極美/美/良好/並下/難の５段階)　ISBN: 4762257087 在庫ＩＤ:170212

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